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UL在台成立印刷电路板性能测试服务实验室

2015/10/23 15:36:01      点击:

 10月20日,UL在台湾建设的印刷电路板性能测试服务实验室正式成立,这为台湾印刷电路板上下游提供更完整的产品规范测试及检测服务。

为配合产业发展,UL认为台湾是印刷电路板制造业的重镇,选择在台湾发展最新印刷电路板性能测试服务实验室,主要提供三项可靠度与性能测试服务,包括CAF(阳极玻纤纱电化学迁移成长)及IST (互连应力试验)两项可靠度试验,针对讯号完整性SET2DIL(单端阻抗讯号损失试验)性能测试。

CAF是针对电路板在长期使用下的绝缘可靠度试验,向来是须有高可靠度要求的终端产品客户,如伺服器、汽车电子及医疗电子产业,对印刷电路板及其材料能力的重点评估项目。UL台湾的CAF试验偏压最高可提供到1000VDC,可满足绝大部份制造商的测试需求。

IST提供一个快速检验电路板导通性能长期可靠度试验方法,此方法可以缩短传统温度循环测试时间过长的问题(在相同的检测次数下, 可缩短12倍的时间)。透过专用测试板及客制化的测试板设计,可快速提供电路板对导通性能的检测,以利客户认证与制程改善检验。SET2DIL/Delta-L是Intel主导的测试方法,是针对讯号完整性要求高的电路板,进行高频讯号性能测试。主要是针对PWB制程与材料评估的重要测试。

UL电子科技产业大中华区工程部总监蔡英哲指出,「现今电路板设计追求高品质、高密度、高速应用,UL是唯一可涵盖物性、化性及电性的全方位实验室;加上我们提供测试前谘询与设计辅导,以及测试后的失效分析找出关键问题根源,有助制造商优化产品,在竞争市场中成为焦点。

蔡英哲进一步表示,「UL台湾印刷电路板性能实验室的成立象征进一步提升电路板产业的整体竞争力,将各种资源做到最充分的整合及发挥,让台湾电路板产业可以在地完成国际认同的检验测试。未来我们也会持续关注市场发展,逐步扩充其他印刷电路板性能测试项目。

该文章转载于:PCB网城

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